Microscopía electrónica

Microscopio electrónico de barrido (SEM)

JEOL JSM-6010LA

SEM con microanálisis EDS para morfología y composición de superficies a escala micro y nanométrica.

Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.

Capacidades

Microscopio electrónico de barrido para el análisis morfológico de superficies a escala micro y nanométrica, con microanálisis químico por espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS).

Especificaciones

Técnicas: Morfología, EDS

Imágenes del equipo

UNaC, CNyN-UNAM