Análisis de superficies por XPS/AES
Composición química y estados de oxidación de superficies e interfaces con resolución nanométrica.
Descripción
Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y de electrones Auger (AES) para determinar la composición elemental, los estados químicos y los perfiles de composición en profundidad de superficies e interfaces. Ideal para control de calidad de recubrimientos, análisis de fallas y caracterización de nanomateriales.