Microscopía electrónica Fuera de servicio
Microscopio electrónico de barrido con FIB
JEOL JIB 4500
SEM de 2.5 nm de resolución con haz de iones focalizado (FIB) para desbaste y deposición.
Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.
Capacidades
Equipo dual SEM/FIB. El microscopio electrónico de barrido alcanza una resolución de 2.5 nm a 30 kV e incluye microanálisis químico por espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDX) y cátodo-luminiscencia. Permite observar la topografía, la textura y la composición química de superficies, y estudiar defectos como grietas, poros o inclusiones.
La columna de haz de iones focalizado (FIB) tiene resolución de 5 nm y permite el desbaste con iones de galio y la deposición de carbono, platino y tungsteno; cuenta con un nanomanipulador para posicionar nanoestructuras.
Especificaciones
- Resolución SEM
- 2.5 nm (30 kV)
- Resolución FIB
- 5 nm
- Microanálisis
- EDX, cátodo-luminiscencia
- Deposición
- C, Pt, W
Imágenes del equipo
- UNaC, CNyN-UNAM
- UNaC, CNyN-UNAM
- UNaC, CNyN-UNAM