Universidad Nacional Autónoma de México

Convocatorias
ES EN

Caracterización óptica

Elipsómetro

Caracterización óptica y metrología de películas delgadas.

Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.

Capacidades

Técnica óptica no destructiva que mide el cambio de polarización de la luz al reflejarse en la muestra. Se emplea para determinar el espesor y el índice de refracción de películas delgadas y para el análisis de superficies.

Imágenes del equipo

  • UNaC, CNyN-UNAM