Universidad Nacional Autónoma de México

Convocatorias
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Difracción de rayos X

Difractómetro de rayos X (polvos)

Panalytical Philips X'Pert MPD

Determinación de estructura cristalina, fases y tamaño de cristal en muestras en polvo.

Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.

Capacidades

La difracción de rayos X permite determinar la estructura cristalina de un material: la difracción ocurre por interferencia constructiva de la radiación monocromática dispersada elásticamente por los planos cristalinos. Con ella se identifican las fases cristalinas presentes, se estima el tamaño y la orientación de los cristales y se identifican materiales.

Se aplica a materiales catalíticos, ferroeléctricos, cerámicos y luminiscentes, productos farmacéuticos, metales y aleaciones, y a la composición de suelos, rocas y minerales.

Especificaciones

Geometría
Bragg-Brentano
Muestras
Polvos

Imágenes del equipo

  • UNaC, CNyN-UNAM
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