Difracción de rayos X Fuera de servicio
Difractómetro de rayos X (películas delgadas)
Philips X'Pert
Identificación de fases y análisis estructural de películas delgadas por difracción de rayos X.
Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.
Capacidades
Difractómetro de rayos X dedicado a películas delgadas: identificación de fases cristalinas, determinación de estructuras y análisis de propiedades estructurales de materiales en capa delgada.
Especificaciones
- Muestras
- Películas delgadas
Imágenes del equipo
- UNaC, CNyN-UNAM
- UNaC, CNyN-UNAM
- UNaC, CNyN-UNAM
- UNaC, CNyN-UNAM