Microscopía de fuerza atómica
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Park XE-70
Imágenes 3D de superficies de materiales sólidos a escala micro y nanométrica.
Solicitar tiempo En el sistema de la unidad, con cuenta propia.
Capacidades
La microscopía de fuerza atómica (AFM) genera imágenes en 3D de la superficie de materiales sólidos a escala micro y nanométrica. Además de la topografía permite analizar rugosidad, adherencia, dureza y conductividad, así como propiedades eléctricas y magnéticas y defectos de superficie.
Se aplica en polímeros, óptica, microelectrónica e industria aeroespacial, entre otros campos.
Especificaciones
- Modos de operación
- Contacto, no contacto y tapping
Imágenes del equipo
- UNaC, CNyN-UNAM